鉅大鋰電 | 點擊量:0次 | 2018年11月08日
鋰離子電池的充放電過程
鋰離子電池是一種高容量長壽命環(huán)保電池,具有諸多優(yōu)點,廣泛應(yīng)用于儲能、電動汽車、便攜式電子產(chǎn)品等領(lǐng)域。隨著社會的發(fā)展,各應(yīng)用領(lǐng)域,特別是電動汽車的發(fā)展,對鋰離子電池的比能量、壽命、安全性和價格提出了更高的要求。
因此,我們必須更深層次地認識電池中高度復(fù)雜的電化學(xué)傳輸機制。而正負極極片的微觀結(jié)構(gòu)與電池的電化學(xué)性能密切相關(guān),許多科學(xué)家致力于研究電極材料以及充放電機理。如果我們能夠在充放電過程中可視化微觀結(jié)構(gòu)的演變,那么,就能更好地理解電池機理,為電池設(shè)計優(yōu)化,甚至開發(fā)下一代電池提供有利依據(jù)。
計算機輔助的X射線斷層掃描(XCT)成像技術(shù)是一種高分辨率、無損傷,非破壞性的成像技術(shù),可以定性和定量分析材料的結(jié)構(gòu)和性能。XCT已被證明可以多尺度上可視化電池各組分的微結(jié)構(gòu)演變,并作為一種有效的工具,可用于診斷電池失效機理。XCT也被用來研究鋰離子電池電極材料的微結(jié)構(gòu)特性。此外,連續(xù)的三維圖像就可以形成4D(3D+時間)分析,包括可能的原位檢測和在線檢測(例如電化學(xué)測試中XCT成像)。
瑞典隆德大學(xué)和英國倫敦大學(xué)學(xué)院的科學(xué)家們使用4D計算機輔助的X射線斷層掃描(XCT)成像技術(shù)可視化硅基電極的第一次鋰化過程。硅基電極在鋰化過程中會出現(xiàn)劇烈的體積變化,甚至超過300%。這將導(dǎo)致電池各組件明顯地機械變形,甚至破壞失效。作者期望可視化鋰化過程,認識體積變化的機理。
實驗方法
電池組裝
如圖1所示,硅電極對金屬鋰組裝成Swagelok型半電池,電池薄殼是X射線可穿透的PFA塑料。微米Si粉:導(dǎo)電石墨:PVDF=80:10:10(重量比)。以硼硅酸鹽玻璃纖維為隔膜。
圖2Si電極恒流鋰化過程的部分放電步驟。電流:25mA,持續(xù)20h(第一次10h),每一步放電之后,進行XCT成像。
X射線源和檢測器被分別放置在樣品前面和后面距離樣品中心15毫米處,使用4倍目鏡,獲取圖像的像素尺寸為1.7μm。掃描器光源管電壓45kV,每次投影曝光時間30s,每次掃描獲取2001張照片,重建后的體積圖像為16位灰度,2000x2000像素。
DVC的分析
這項研究使用數(shù)字體積相關(guān)算法(DigitalVolumeCorrelation,簡稱DVC)來量化電池極片和隔膜在鋰化過程中的機械變形。DVC技術(shù)是通過分析具有相關(guān)關(guān)系的兩組三維圖像,獲得物體變形過程中位移場和應(yīng)變場的計算方法,其基本原理如圖3所示。這種方法能測量出三維圖像變形前后,任意位置的采樣點的位移和應(yīng)變。
圖3數(shù)字體積相關(guān)算法
(a)樣本節(jié)點位移矢量的示意圖,(b)規(guī)則的初始網(wǎng)格中由8個鄰節(jié)點限制的立方亞體積,(c)形變網(wǎng)格中的變形亞體積。
結(jié)果與討論
獲取不同鋰化階段的硅基電極XCT重構(gòu)三維照片11張,圖4是其中6張電極三維體積的垂直截面圖(圖4a-f),圖5是其中3張電極三維體積的水平截面圖。圖像灰度閾值設(shè)定為13,750-18,250(16位灰度值),這可以從圖像中看到低飽和度的金屬鋰。高密度材料,如Si,玻纖維隔膜,灰度值高,呈現(xiàn)亮色。而圖像中比硅灰度值還高的小白點可能是雜質(zhì)。
從圖4-5中可見,硅基電極鋰化過程伴隨著明顯的體積膨脹。鋰化到64.5%時,電極體積增加了3倍。隔膜的機械穩(wěn)定性有益于電池的安全和電性能。巨大的體積變化導(dǎo)致隔膜中間部位破裂,鋰化到64.5%之后不能進一步鋰化,可能就是因為電極形成了短路。
放電鋰化過程中,隔膜遭受了垂直位移和壓縮。在電池制作過程中,隔膜經(jīng)歷了不均勻的初始壓縮,中間部位壓縮大,導(dǎo)致局部鋰離子擴散受限,電極兩側(cè)部位比中間鋰化程度大。
圖4-5中也可以清晰看到鋰化過程,當(dāng)鋰化發(fā)生時,Si顆粒與鋰離子反應(yīng)形成LixSi,呈現(xiàn)暗色。而細小亮點雜質(zhì)體積和灰度值都沒有變化。圖4g是電極中同一區(qū)域的灰度直方圖(考慮了電極膨脹,并排除了隔膜和金屬鋰),初始電池的灰度出現(xiàn)兩個峰,Si顆粒呈現(xiàn)高灰度值,而低灰度值峰與電極中的導(dǎo)電劑、粘結(jié)劑和孔洞相關(guān)?;叶戎挡粩嘟档偷难葑円舱f明了鋰化過程,低灰度值化表明形成了LixSi。
圖4(a-f)鋰化過程中,XCT重構(gòu)體積垂直截面;(g)鋰化過程灰度直方圖演變